這些試樣非常適合比較放大率和評估圖像場中的任何失真。理想情況下，在自動計數系統中，檢查未預料到的失真是非常有用的。
由5×5 m m正方形的單晶硅光蝕刻而成，每10μm重復一次。分界線為1.9μm寬
每500μm寫入一條更寬的蝕刻線，這在光學顯微鏡中很有用。在必須進行關鍵測量的地方，樣品可以直接安裝在校準樣品上，以便在顯微圖上獲得內部校準。">
| 產品名稱 | ?Silicon Test Specimens, Electron Microscopy Sciences |
| 產品貨號 | ?79502-10 |
| 產品價格 | 現貨詢價，電話：010-67529703 |
| 產品規格 | |
| 產品品牌 | ?vwr |
| 產品概述 | 這些試樣非常適合比較放大率和評估圖像場中的任何失真。理想情況下，在自動計數系統中，檢查未預料到的失真是非常有用的。 由5×5 m m正方形的單晶硅光蝕刻而成，每10μm重復一次。分界線為1.9μm寬 每500μm寫入一條更寬的蝕刻線，這在光學顯微鏡中很有用。在必須進行關鍵測量的地方，樣品可以直接安裝在校準樣品上，以便在顯微圖上獲得內部校準。 |
| 產品詳情 | 這些試樣非常適合比較放大率和評估圖像場中的任何失真。理想情況下，在自動計數系統中，檢查未預料到的失真是非常有用的。 由5×5 m m正方形的單晶硅光蝕刻而成，每10μm重復一次。分界線為1.9μm寬 每500μm寫入一條更寬的蝕刻線，這在光學顯微鏡中很有用。在必須進行關鍵測量的地方，樣品可以直接安裝在校準樣品上，以便在顯微圖上獲得內部校準。 |
| 產品資料 |