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掃描離子電導顯微鏡 (SICM)

該掃描離子電導顯微鏡 (SICM) 領域的者，SICM 是一種迅速興起的掃描探針顯微鏡 (SPM) 技術，可對柔軟細膩的表面進行納米級地形圖繪制。

該掃描離子電導顯微鏡 (SICM) 是的納米成像系統。它包括掃描頭、控制器和數據采集系統。SICM 堅固的機械設計可確保高精度測量。它可以用作立系統或與倒置光（或共聚焦）顯微鏡集成。圖像軟件提供多種支持模式和內置系統功能，例如自動浸沒、表面檢測、實時離子電流顯示、圖像形成時的實時 2D 和 3D 顯示。

掃描離子電導顯微鏡 (SICM) 的作用

圖像

海馬神經元

SICM 在以下方面結合了樣品制備的簡便性和非破壞性高分辨率成像：

• 活細胞和組織
• 人造結構

措施

間充質干細胞

SICM 特的電導反饋捕捉柔軟細膩表面的細節以了解：

• 形態變化
• 生理過程
• 表面化學

位置

金納米粒子-過氧化氫氧化

顯微鏡可以將探頭放置在成像的 3D 表面上，以執行或同時生成以下地圖：

• 靶向膜片鉗
• 光學和電化學分析
• 與多種技術集成
• 材料的沉積和提取

掃描離子電導顯微鏡 (SICM) 系統的工作原理

掃描離子電導顯微鏡 (SICM) 獲取電解質溶液中表面的形貌圖像。通過在樣品上掃描（玻璃或石英）納米移液器探針同時測量通過移液器的離子電流來創建圖像。當探針接近樣品表面時，離子電流減小；當離子電流下降預定量時記錄 Z 位置。

這種特的反饋機制使納米移液器能夠避免與樣品發生物理接觸——這意味著 SICM 特別適合對活細胞等軟樣品進行成像。SICM 以非破壞性方式對其他系統會損壞的復雜特征進行成像。

掃描離子電導顯微鏡應用

系統組件

掃描頭

• 大掃描范圍和樣品臺行程范圍。
• 納米分辨率的定位。
• 系統噪音水平低。
• 易于使用移液器和樣品區。
• 適用于各種倒置顯微鏡。

控制器

• 接口控制和反饋信號。
• FPGA 為移液器定位和電流檢測提供信號處理。
• 輔助輸入允許來自外部設備的信號與閾值離子電流和移液器位置的檢測同步顯示。

用戶界面

• 用戶友好的界面允許輕松配置、控制、測量和顯示系統和數據。
• 具有搜索功能的數據庫。
• 動態 2D 和 3D 圖像。
• 控制跳躍模式，也支持Approach Curve和Manual Approach操作